监测细胞侵袭和迁移
xCELLigence RTCA DP 仪器将连续的无标记阻抗技术的优点与经典 Boyden 小室进行了结合。将细胞直接置于 CIM-Plate-16 上室的微多孔膜顶部（迁移检测）或置于预先沉积在膜上的基底膜基质和/或单层细胞的顶部（侵袭检测）。当细胞迁移并附着在下室的阻抗微电极上时，多孔膜上的阻抗传感器可自动对其进行检测。
DP 仪器的三个板位/卡位可满足三个独立的 16 孔电子板，可以平行或彼此独立地进行控制和监测。这种灵活的孔板批量处理模式可实现多用户处理，大大提高了分析效率。该仪器在标准 CO2 细胞培养箱中运行，工作站位于培养箱外部。
xCELLigence RTCA DP 仪器将连续的无标记阻抗技术的优点与经典 Boyden 小室进行了结合。将细胞直接置于 CIM-Plate-16 上室的微多孔膜顶部（迁移检测）或置于预先沉积在膜上的基底膜基质和/或单层细胞的顶部（侵袭检测）。当细胞迁移并附着在下室的阻抗微电极上时，多孔膜上的阻抗传感器可自动对其进行检测。
xCELLigence RTCA 仪器采用基于阻抗的技术，可在数秒至数天内于标准 CO2 细胞培养箱中连续自动检测细胞的健康和行为。只需将细胞加至 E-Plate，即可开始实时监测细胞数量、细胞增殖速率、细胞大小、细胞形态以及细胞-基质粘附强度。xCELLigence RTCA DP 还能使用每个孔内都含有电子集成 Boyden 小室的 CIM-Plate-16 检测细胞侵袭和迁移 (CIM)。
这种高灵敏度实时细胞阻抗分析采用融合在 E-Plate 底面的微金电极，可非侵入性地检测细胞特性。电极与溶液交界处存在的贴壁细胞会阻碍电子流动。阻抗的强弱取决于细胞数量、大小、形状以及细胞-基质的粘附强度。微金电极表面以及所采用的电势 (22 mV) 均不会对细胞活力和细胞行为产生影响。
